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- 產品名稱：MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀
- 產品型號：
- 產品展商：德國EPK
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簡單介紹
德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；
- 所有型號均可配所有探頭
- 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機
- 可使用一片或二片標準箔校準
產品描述
功能
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型號
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1100
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2100
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3100
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4100
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MINITEST 存儲的數據量
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應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)
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1
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1
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10
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99
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每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計，可設寬容度極限值)
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-
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1
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10
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99
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可用各自的日期和時間標識特性的組數
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-
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1
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500
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500
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數據總量
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1
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10000
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10000
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10000
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MINITEST統計計算功能
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讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar
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√
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√
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√
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讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
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-
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√
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√
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組統計值六種x,s,n,max,min,kvar
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-
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-
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√
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√
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組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
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-
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-
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√
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√
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存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據
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-
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-
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√
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分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值
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-
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-
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√
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顯示并打印測量值、打印的日期和時間
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-
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√
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√
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其他功能
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透過涂層進行校準(CTC)
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√
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√
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在粗糙表面上作平均零校準
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√
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√
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√
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利用計算機進行基礎校準
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√
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√
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√
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補償一個常數(Offset)
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-
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√
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外設的讀值傳輸存儲功能
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-
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√
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保護并鎖定校準設置
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√
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√
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更換電池是存儲數值
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設置極限值
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-
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公英制轉換
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√
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連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別*大*小值
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-
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√
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連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數
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-
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-
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浮點和定點方式數據傳送
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組內單值延遲顯示
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√
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√
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連續(xù)測量模式中顯示*小值
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√
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√
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可選探頭參數(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
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探頭
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量程
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低端
分辨率
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誤差
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*小曲率
半徑(凸/凹)
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*小測量
區(qū)域直徑
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*小基
體厚度
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探頭尺寸
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F05
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0-500μm
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0.1μm
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±(1%+0.7μm)
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1/5mm
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3mm
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0.2mm
|
φ15x62mm
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F1.6
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0-1600μm
|
0.1μm
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±(1%+1μm)
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1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
F1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
平面/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x170mm
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F3
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0-3000μm
|
0.2μm
|
±(1%+1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
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F10
|
0-10mm
|
5μm
|
±(1%+10μm)
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5/16mm
|
20mm
|
1mm
|
φ25x46mm
|
|
F20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%+10μm)
|
10/30mm
|
40mm
|
2mm
|
φ40x66mm
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F50
|
0-50mm
|
10μm
|
±(3%+50μm)
|
50/200mm
|
300mm
|
2mm
|
φ45x70mm
|
|
N02
|
0-200μm
|
0.1μm
|
±(1%+0.5μm)
|
1/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ16x70mm
|
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N.08Cr
|
0-80μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
2.5mm
|
2mm
|
100μm
|
φ15x62mm
|
|
N1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
1.5/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
|
N1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
平面/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x170mm
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N10
|
0-10mm
|
10μm
|
±(1%+25μm)
|
25/100mm
|
50mm
|
50μm
|
φ60x50mm
|
|
N20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%+50μm)
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25/100mm
|
70mm
|
50μm
|
φ65x75mm
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N100
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0-100mm
|
100μm
|
±(1%+0.3mm)
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100mm/平面
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200mm
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50μm
|
φ126x155mm
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CN02
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10-200μm
|
0.2μm
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±(1%+1μm)
|
平面
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7mm
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無限制
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φ17x80mm
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FN1.6
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0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F：0.5mm
N：50μm
|
φ15x62mm
|
|
FN1.6P
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
平面
|
30mm
|
F：0.5mm
N：50μm
|
φ21x89mm
|
|
FN2
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%+1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F：0.5mm
N：50μm
|
φ15x62mm
|
|
注：
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F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
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